【檢測內(nèi)容介紹】

靜電放電即ESD（Electro-Staticdischarge），是指具有不同靜電電位的物體互相靠近或直接接觸引起的電荷轉(zhuǎn)移。對不同使用環(huán)境、不同用途、不同ESD敏感度的電子產(chǎn)品標準對靜電放電抗擾度試驗的要求是不同的，但這些標準關(guān)于 ESD抗擾度試驗大多都直接或間接引用 GB/T17626.2-2018，IEC 61000-4-2：2008 《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗》這一國家電磁兼容基礎(chǔ)標準，并按其中的試驗方法進行試驗。ESD靜電測試儀通過模擬真實的靜電放電事件，將靜電電荷注入被測試物體，并測量和分析其放電現(xiàn)象，以評估物體的防護性能和敏感性。這些測試結(jié)果可以幫助制造商和設(shè)計者改進產(chǎn)品和設(shè)備的靜電控制措施，從而提高其可靠性和抗干擾能力。


一、靜電放電抗擾度試驗常用關(guān)鍵詞：

1、空氣放電法將試驗發(fā)生器的充電電極靠近受試設(shè)備直至接觸到受試設(shè)備的一種試驗方法。2、符合性測試測試一個代表性的樣品來確認設(shè)計和制造的設(shè)備是否滿足此標準要求。

3、接觸放電方法試驗發(fā)生器的電極保持與受試設(shè)備的接觸并由發(fā)生器內(nèi)的放電開關(guān)激勵放電的一種試驗方法。

4、耦合板一塊金屬片或金屬板，對其放電來模擬受試設(shè)備附近物體的靜電放電。

5、性能降低裝置、設(shè)備和系統(tǒng)的工作性能與正常工作性能的非期望偏離。

6、直接放電直接對受試設(shè)備實施放電。

7、電磁兼容性設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾能力。

8、靜電放電具有不同靜電電位的物體相互靠近或直接接觸引起的電荷轉(zhuǎn)移。

9、EUT受試設(shè)備

10、接地參考平面一塊導電平面，其電位用作公共參考電位。

11、保持時間放電之前，由于泄漏而使試驗電壓下降不大于10％的時間間隔。

12、間接放電對受試設(shè)備附近的耦合板實施放電，以模擬人員對受試設(shè)備靠近物體的放電。二、試驗對象：
處于靜電放電環(huán)境中和安裝條件下的裝置、系統(tǒng)、子系統(tǒng)和外部設(shè)備。
三、試驗內(nèi)容：
接觸放電（金屬部分）;空氣放電（非金屬部分）;間接放電 水平耦合HCP,垂直耦合VCP。四、試驗等級：
標準將試驗等級分成四級：對接觸放電分別設(shè)為2kV，4kV，6kV和8kV;對氣隙放電分別設(shè)為2kV，4kV，8kV和15kV。


靜電放電的起因有多種，但該標準主要描述在低濕度情況下，通過摩擦等因素，使操作者積累了靜電。電子和電氣設(shè)備遭受直接來自操作者的靜電放電和對臨近物體的靜電放電時的抗擾度要求和試驗方法。
五、試驗?zāi)康模?br> 試驗單個設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電干擾的能力。它模擬：（1）操作人員或物體在接觸設(shè)備時的放電。（2）人或物體對鄰近物體的放電。
六、靜電放電造成后果：
通過直接放電能量交換，引起設(shè)備中半導體器件的損壞，從而造成設(shè)備的永久性失效。由放電（可能是直接放電，也可能是間接放電）而引起的近場電磁場變化，造成設(shè)備的誤動作。七、試驗布置：

七、試驗結(jié)果的判定：
試驗結(jié)果應(yīng)依據(jù)EUT試驗中的功能喪失或性能降低現(xiàn)象進行分類，相關(guān)的性能等級由設(shè)備的制造商或試驗的委托方確定,或由產(chǎn)品的制造商和采購方雙方協(xié)商同意。推薦的分類如下:a) 在制造商、委托方或采購方規(guī)定的限值內(nèi)性能正常;
b) 功能或性能暫時喪失或降低,但在騷擾停止后能自行恢復(fù),不需要操作者干預(yù):
c) 功能或性能暫時喪失或降低,但需操作者干預(yù)才能恢復(fù);
d)因設(shè)備硬件或軟件損壞,或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。

更新時間：2026/2/28 16:22:34