【檢測內(nèi)容介紹】

板卡高溫85℃環(huán)境試驗服務(wù)出具CNAS檢測報告，北京儀綜所實驗室提供各類高精度板卡 定向板卡 組合導航板卡 授時板卡以及各類電路板芯片的耐高溫試驗服務(wù)、低溫耐受服務(wù)、高低溫循環(huán)沖擊試驗服務(wù)、隨機振動試驗服務(wù)、雙85高溫高濕試驗服務(wù)等環(huán)境適應(yīng)性測試服務(wù)。

 
實驗室提供專業(yè)高低溫環(huán)境試驗室檢測服務(wù),周期短,費用低,權(quán)威性高 一對一專業(yè)定制化服務(wù) 全面解決貴司遇到的高低溫環(huán)境試驗檢測難題。
 
測試內(nèi)容：
工作溫度：-40℃~+85℃
貯存溫度：-55℃~+125℃
高溫老化：85℃，帶電工作1000h
高溫高濕試驗：溫度85℃，濕度85％RH,通電運行500h.
 
其他相關(guān)檢測項目
定位數(shù)據(jù)輸出頻度
原始觀測量輸出頻度
動態(tài)要求
初始化時間和可靠性
靜態(tài)相位觀測量精度
跟蹤靈敏度
定位精度
高溫工作試驗
低溫工作試驗
低溫貯存試驗
高溫貯存試驗
恒溫恒濕工作試驗
寬帶隨機振動試驗
 
檢測項目應(yīng)符合要求判定鑒定檢驗合格，可有一次不合格項的重檢，重檢任未通過的，并確認為該產(chǎn)品自身質(zhì)量方面的問題，則判定為不合格。
產(chǎn)品質(zhì)量一致性檢驗應(yīng)分為逐批檢驗和周期檢驗。
 
環(huán)境試驗測試標準：
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分：試驗方法 低溫
GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 高溫
GB/T2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  恒定濕熱試驗
GB/T2423.56-2018 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  寬帶隨機振動試驗
 
實驗室屬于國家科研院所檢測機構(gòu)，具備國家實驗室資質(zhì)認可CNAS和CMA，可以依據(jù)GB,GJB,IEC,EN等標準進行高低溫環(huán)境試驗第三方檢測服務(wù)，并出具國家認可的檢測報告。

更新時間：2026/2/27 15:37:43