【檢測內(nèi)容介紹】

北京電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第三方測試機(jī)構(gòu)檢測報(bào)告，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)，環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)，第三方檢測報(bào)告。
1、低溫試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007
2、高溫試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫 GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007
3、恒定濕熱試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分： 試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Cab：恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2016，IEC 60068-2-78：2012
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T 2423.50-2012，IEC 60068-2-67:1995
4、交變濕熱試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Db：交變濕熱（12h＋12h 循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC60068-2-30:2005
5、振動(dòng)試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Fc: 振動(dòng)(正弦)GB/T 2423.10-2019，IEC 60068-2-6:2007
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2018，IEC 60068-2-64:2008
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Fi:振動(dòng) 混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005
6、溫度變化試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N: 溫度變化 GB/T2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009
7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn) GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009
8、自由跌落試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Ec:粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品） GB/T 2423.7-2018，IEC60068-2-31: 2008
9、機(jī)械沖擊試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Ea 和導(dǎo)則:沖擊GB/T 2423.5-2019，IEC 60068-2-27:2008
10、碰撞試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Ea 和導(dǎo)則:沖擊GB/T 2423.5-2019，IEC 60068-2-27:2008
11、傾跌與翻倒試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Ea 和導(dǎo)則:沖擊GB/T 2423.5-2019，IEC 60068-2-27:2008
12、砂塵試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) L：沙塵試驗(yàn) GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994
13、鹽霧試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981
人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn) GB/T 10125-2012，ISO9227:2006
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996
14、溫度沖擊試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N: 溫度變化 GB/T2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009
15、外殼防護(hù)試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則 GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000
外殼防護(hù)等級(jí)（IP 代碼） GB/T 4208-2017，IEC60529:2013
外殼防護(hù)等級(jí)(IP 代碼) GB/T 4208-2008，IEC60529:2001
旋轉(zhuǎn)電機(jī)整體結(jié)構(gòu)的防護(hù)等級(jí)（IP 代碼）-分級(jí) GB/T4942.1-2006，IEC 60034-5:2000
16、低溫/振動(dòng)(正 弦)綜合試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)和導(dǎo)則 氣候(溫度、濕度)和動(dòng)力學(xué)(振動(dòng)、沖擊)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2019，IEC60068-2-53: 2010
17、高溫/振動(dòng)(正 弦)綜合試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)和導(dǎo)則 氣候(溫度、濕度)和動(dòng)力學(xué)(振動(dòng)、沖擊)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2019，IEC60068-2-53: 2010
18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合 GB/T 2423.59-2008
19、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合 GB/T2423.102-2008
20、可靠性試驗(yàn)
可靠性試驗(yàn) 第 1 部分：試驗(yàn)條件和統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)原理 GB/T5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001
可靠性試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)周期設(shè)計(jì) GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994
設(shè)備可靠性試驗(yàn) 可靠性測定試驗(yàn)的點(diǎn)估計(jì)和區(qū)間估計(jì)方法 (指數(shù)分布) GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978
設(shè)備可靠性試驗(yàn)成功率的驗(yàn)證試驗(yàn)方案 GB/T5080.5-1985 ，IEC 60605-5:1982
設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗(yàn) GB/T5080.6-1996 ，IEC 60605-6:1989
設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案 GB/T 5080.7-1986，IEC60605-7:1978
21、低氣壓試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) M：低氣壓 GB/T 2423.21-2008，IEC 60068-2-13:1983
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn) GB/T 2423.25-2008，IEC68-2-40:1976
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn) GB/T 2423.26-2008，IEC68-2-41:1976

北京電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第三方測試機(jī)構(gòu)屬于國有的第三方檢測機(jī)構(gòu)，可以按照上面的檢測標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)及可靠性試驗(yàn)服務(wù)，出具CNAS檢測報(bào)告。

更新時(shí)間：2026/2/27 15:48:31